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[单选题]

设备在点胶过程出现missingdie报警时,重新开机前必须检验()上有无芯片。

A.助焊剂盘

B.晶圆

C.拾取头

D.粘接头

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第1题

更换完助焊剂后,()观察助焊剂盘上有无助焊剂漏入周围的保护槽。

A.0min-30min

B.30min-60min

C.开机前

D.90min-120min

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第2题

设备开机前,检验确认设备状态,如()、()和()更换等,确认完成后填写相应记录。

A.助焊剂

B.吸嘴

C.顶针

D.框架

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第3题

芯片拾取过程三点一线是指()、()和()在一条直线上。

A.顶针中心

B.吸嘴中心

C.镜头中心

D.粘接头中心

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第4题

晶圆传递时,晶圆()拿取晶圆,严禁手指触碰晶圆有芯片区域。

A.正面朝上

B.正面朝下

C.双手

D.单手

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第5题

晶圆传递时,晶圆正面朝上,双手拿取晶圆,严禁手指触碰晶圆()。

A.有芯片区域

B.绷膜环

C.蓝膜

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第6题

设备更换晶圆后,必须双人核对晶圆数量及参考点位置,并在()上签字。

A.流程卡

B.中测单

C.晶圆管制卡

D.map上芯数统计记录

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第7题

集成电路的主要制造流程是()

A.硅抛光片——晶圆——芯片——集成电路——成品测试

B.硅抛光片——芯片——晶圆——成品测试——集成电路

C.晶圆——硅抛光片——芯片——成品测试——集成电路

D.硅抛光片——芯片——晶圆——集成电路——成品测试

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第8题

晶圆上机前,必须检验外观,方法为在灯光下()的范围内缓慢摇晃检验。

A.0-180°

B.0-45°

C.90-180°

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第9题

每片晶圆上机前必须检验晶圆批号刻字和()一致(忽略前后缀)。

A.map条码

B.工单号

C.框架批号

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第10题

同一晶带的晶面的极射赤平投影点不可能出现的位置有()

A.基圆上

B.直径上

C.大圆弧上

D.小圆弧上

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