第2题
A.只要测量设备校准没有问题,没有必要分析测量系统的重复性和再现性
B.只要测量系统的重复性和再现性没有问题,说明设备校准一定没有问题
C.如果测量设备没有经过校准,测量系统的重复性和再现性一定很差
D.即使设备经过校准,测量系统的重复性和再现性也不一定没有问题
第3题
A.新购买的测量设备在校准之后需要进行测量系统分析
B.需要使用新的测量设备,此时应对新测量设备进行测量系统分析
C.测量设备的使用方法发生变化时,需要对新的测量系统进行分析
D.部分测量设备在位置移动之后需要根据情况进行测量系统分析
第6题
A.AT详细项目和标准的制定需充分考虑供应商的资源限制,以确保检查项目能够执行到位
B.MRD设备工程师在FAT前要提前确认设备的运行情况,以确保FAT的通过率
C.设备涉及测量系统时,供应商提前提供测量系统的校准和特性分析报告即可,MRD和MSA无需确认
D.当存在多台同类型设备时,可采用抽样方式进行数据测试
第9题
A.A.检修后的测量系统应进行系统综合误差校准,校准点包括常用点在内不少于3点
B.B.系统综合误差的校准,应在系统各单体设备校准工作结束并合格后进行;若综合误差不满足要求,应查明原因,包括对系统中的单体仪表重新进行校准或检修
C.C.合上系统中各个设备的电源,按系统中主要仪表的预热时间预热后,方可进行系统综合误差校验
D.D.测量系统综合误差校准时,温度测量系统可以在测量回路任何方便的部位输入校准信号
第10题
A.定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析
B.校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)
C.定期进行GRR研究一般可以代替定期校准
D.定期进行GRR研究不能代替定期校准
第11题
A.定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析(BD)
B.校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)
C.定期进行GRR研究一般可以代替定期校准
D.定期进行GRR研究不能代替定期校准
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