测量设备在以下()情况需要进行测量系统分析
A.新购买的测量设备在校准之后需要进行测量系统分析
B.需要使用新的测量设备,此时应对新测量设备进行测量系统分析
C.测量设备的使用方法发生变化时,需要对新的测量系统进行分析
D.部分测量设备在位置移动之后需要根据情况进行测量系统分析
A.新购买的测量设备在校准之后需要进行测量系统分析
B.需要使用新的测量设备,此时应对新测量设备进行测量系统分析
C.测量设备的使用方法发生变化时,需要对新的测量系统进行分析
D.部分测量设备在位置移动之后需要根据情况进行测量系统分析
第3题
A.测量仪器需要提前校准
B.使用经过培训合格的操作者
C.离散型数据不需要进行测量系统分析
D.得到的结果%R&R>30%的测量系统一定可用
第4题
A.定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析
B.校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)
C.定期进行GRR研究一般可以代替定期校准
D.定期进行GRR研究不能代替定期校准
第5题
A.定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析(BD)
B.校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)
C.定期进行GRR研究一般可以代替定期校准
D.定期进行GRR研究不能代替定期校准
第6题
A.在测量阶段确认是否需要进行测量系统分析后,没有必要时不需要进行测量系统分析
B. 破坏性检验无法进行测量系统分析
C. 测量值的‘真值’是无法知道的,我们定义的真值是理论真值
D. 线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器正确度
第7题
A.定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析
B.校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)
C.定期进行GRR研究一般可以代替定期校准
D.定期进行GRR研究不能代替定期校准
第8题
A.使用交叉型测量系统分析
B.使用嵌套型测量系统分析
C.使用属性一致性判断分析方法
D.以上说法都不正确
第9题
A.定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门再进行测量系统分析
B.校准可以消除或者减少测量系统的偏倚
C.定期进行GRR研究一般可以代替定期校准
D.定期进行GRR研究不能代替定期校准
第10题
A.使用交叉型测量系统分析
B.使用嵌套型测量系统分析
C.使用属性一致性判断分析方法
D.以上说法都不正确
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