用于探测试件内部缺陷的无损检测方法是（)。

A.磁粉

B.渗透

C.超声

D.射线

A.超声检测

B.射线检测

C.磁粉检测

D.透渗检测

E.涡流检测

A.射线检测

B.超声检测

C.渗透检测

D.磁粉检测

A.射线检测

B.磁粉检测

C.超声检测

D.渗透检测

A.超声检测

B.射线检测

C.磁粉检测

D.渗透检测

A.超声波检测

B.磁粉检测

C.渗透检测

D.射线检测

A.射线探伤

B.超声探伤

C.磁粉探伤

D.着色探伤

A.磁粉

B.渗透

C.涡流

D.目视

A.磁粉检测

B. 渗透检测

C.超声波检测

D.射线检测

E.回弹检测