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[判断题]

SINR差是导致MCS低的直接原因,通常可以通过测试选点方式,选择SINR高于30dB的点进行测试。()

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第1题

空口信道质量是影响速率最明显的因素,可以通过RSRP、SINR、MCS、BLER、RANK等指标来衡量。()
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第2题

以下哪些空口因素可能影响数传吞吐率()

A.DCI漏检

B.MCS低

C.SINR差

D.CQI低

E.BLER高

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第3题

TD-LTE系统中,以下哪项可以认为测试无线环境为中点()
TD-LTE系统中,以下哪项可以认为测试无线环境为中点()

A、RSRP=-100dB,SINR=10

B、RSRP=-85dB,SINR=22

C、RSRP=-105dB,SINR=0

D、RSRP=-75dB,SINR=30

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第4题

TD-LTE系统中,以下哪项可以认为测试无线环境为极好点()
TD-LTE系统中,以下哪项可以认为测试无线环境为极好点()

A、RSRP=-90dB,SINR=11

B、RSRP=-85dB,SINR=3

C、RSRP=-90dB,SINR=17

D、RSRP=-75dB,SINR=25

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第5题

NB-IoT单验时,定点测试要求RSRP及SINR门限为多少?()

A、RSRP≥-80dBm,SINR≥10dB

B、RSRP≥-80dBm,SINR≥20dB

C、RSRP≥-90dBm,SINR≥20dB

D、RSRP≥-90dBm,SINR≥10dB

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第6题

系统按照UE上报的以下哪项参数自动选择传输用户数据时所用的MCS?()

A.RSRP

B.SINR

C.原始的MCS

D.CQI

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第7题

上行MCS较低的原因有哪些?()

A.上行SINR较低

B.Pathloss过大导致

C.BBU侧接收问题

D.基站附近存在干扰过大

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第8题

以下关于PUCCH功率控制的描述,正确的是哪些项?()

A.PuCCH内环功率控制通过测量PUCCH的SINR进行功率调整

B.PuCCH外环功控通过PUCCH的BLER测量调整PUCCH的SINR门限

C.PUCCH内环功控通过PUCCH的BLER测量调整PUCCH的SINR门限

D.PUCCH外环功率控制通过测量PUCCH的SINR进行功率调整

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第9题

SSB多波束配置下,高通终端稳态下服务波束不更新,容易导致SSB sinr差,产生原因为T310 expiry的SCG failure。()
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第10题

LTE下行单用户峰值测试时,以下哪些因素会影响空口性能?()

A.SINR

B.测试终端两个天线接收信号强度是否平衡

C.RSRP

D.终端的开户信息

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