题目内容
(请给出正确答案)
[主观题]
用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量
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第3题
A、耦合不良
B、存在与声束不垂直的缺陷
C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
D、以上都可能
第4题
A.采用当量试块比较法测定的结果
B.对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果
C.根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
D.缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同
第5题
A、小于实际尺寸
B、接近声束宽度
C、大于实际尺寸
D、等于晶片尺寸
第8题
A、大
B、小
C、无影响
D、不一定
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