JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。（)

JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。（)

磁粉探伤中，凡有磁痕的部位都是缺陷。（)

喷嘴喷洒磁悬液时的压力对缺陷磁痕的形成有很大影响。（)

交流,直流充磁法都能显示的磁痕是由试件表面下较深的缺陷形成的磁痕。（)

磁粉检测由于磁粉直接附着在缺陷位置上形成磁痕，能直观地显示缺陷的形状、位置、大致判断缺陷的性质。（)

食品标签通用标准规定当标准规定的保质（存)期大于12个月时，可以免除标汪保质（存)期。（)

在进行手表的外观检验时，使用放大镜进行观察是更严格的标准（）

评定弯曲试验结果时，可以用低倍放大镜进行微裂纹缺陷的测量。 （)

磁粉探伤的核心在于能够在试件缺陷附近形成足以吸附一定量的磁粉而呈现磁痕的漏磁场（）

用湿粉连续法探伤，磁化电流停止时要立即停止喷洒磁悬液，以免流动的磁悬液继续在工件上作用，这是由于这会冲洗掉细小的磁痕，使连续法变为剩磁法。（)