在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）

A.测量缺陷的大小

B.缺陷的位置

C.缺陷的几何不清晰度

D.确定透照底片上影像质量

A.缺陷影像的几何形状

B.缺陷影像的厚度

C.缺陷影像的大小

D.缺陷影像的长度

A.长度

B.厚度

C.大小

D.黑度分布

A.宽度尺寸较小的细节影像的可识别性

B.影响细小缺陷的可检验性

C.导致影像对比度降低

D.以上都是

A.影像放大率Mf数越小，因而缺陷越难发现

B.影像放大率Mf数越大，而缺陷越难观察

C.形状修正系数σ越大，因而缺陷检出率越低

D.以上都不是

A.与对比度成反比

B.与模糊值成正比

C.二者间距越大，锐利度越大

D.二者间距越大，影像边缘越模糊

E.球管焦点越大影像锐利度越大

A.底片黑度

B.底片灰雾度

C.底片几何不清晰度

D.底片的灵敏度

E.以上全是

A.裂缝

B.未焊透（IP）

C.未熔合（IF）

D.焊蚀、熔蚀、咬边（Undercut）