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[单选题]

在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着(),所以探伤灵敏度会明显偏低。

A.侧壁干扰

B.61°角反射波

C.工件底面不平

D.以上都对

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第1题

在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着侧壁干扰,所以探伤灵敏度会明显偏低()
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第2题

在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。

A.探头接触不良

B.遇到材质衰减大的部位

C.工件底面不平或工件内部有缺陷

D.以上都对

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第3题

用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()

A.尽可能靠近侧壁;

B.离侧壁10mm;

C.离侧壁一个探头直径的距离处;

D.离侧壁二个探头直径的距离处。

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第4题

用工件底面调整探伤灵敏度:()。

A.容易确定缺陷的位置

B.定量较精确

C.可以不考虑工件表面的耦合补偿

D.杂波干扰少

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第5题

在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。
在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。

A、探头接触不良

B、遇到材质衰减大的部位

C、工件底面不平或工件内部有缺陷

D、AB和C

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第6题

纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。

A.侧壁干涉

B.波的叠加

C.波的绕射

D.波的衍射

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第7题

纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波低,远离侧壁探测时回波高。()
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第8题

被工件底面或缺陷反射后的声波,称为()。

A.底波

B.发射波

C.伤波

D.回波

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第9题

在一定探伤灵敏度下,从探测面到最近可探缺陷在被检工件中的深度,称为“盲区”。()
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第10题

在狭长工件中,声波到达底面之前,由于声束扩散,在试件侧面可能产生()。

A.多次底面反射

B.多次界面反射

C.波型转换

D.入射声能的损失

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