题目内容
(请给出正确答案)
[单选题]
在低阻抗绕组的冲击试验中,为了能得到较好的冲击波形,试验过程中可采取下列哪种接线方法进行改善。()
A.将非受试相的各端子通过电阻接地
B.将受试相的非被试端子直接接地
C.将受试相的非被试端子通过电阻接地
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A.将非受试相的各端子通过电阻接地
B.将受试相的非被试端子直接接地
C.将受试相的非被试端子通过电阻接地
第5题
A.在相同冲击能量的任何冲击试验机上进行。
B.可不在同一台冲击试验机上进行
C.在同一台冲击试验机上进行
第7题
A.与开关的位置无关,不需要改变分接开关的位置
B.按选定的接线方式进行短路阻抗测量
C.应将被测绕组对的不加压侧所有接线端全部短接,被试品试验接线并检查确认接线正确
D.应将被测绕组对的不加压侧所有接线端全部开路,被试品试验接线并检查确认接线正确
第8题
A.绕组的等值电感小或等值电容大
B.绕组的等值电感大或等值电容大
C.绕组的等值电感小或等值电容小
第9题
A.短时感应耐压试验在外施耐压试验之前进行
B.操作冲击试验在雷电冲击试验之前进行
C.长时感应试验在短时感应试验之前进行
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