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[主观题]

一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。A.非破坏性检验B.破坏性检验C.全数

一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（）。

A.非破坏性检验

B.破坏性检验

C.全数检验

D.感官检验

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第1题

科学计量通常采用（　　）来定义和实现计量单位，并为最新科技发展提供可靠的测量基础。

A.通用管理方法

B.实用测量技术

C.基础物理学理论

D.最新科技成果

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第2题

作为质量管理的一项重要活动．（　　）是指致力于制定质量目标，并规定必要的运行过程和相关资源以实现质量目标的活动。

A.质量改进

B.质量策划

C.质量保证

D.质量控制

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第3题

质量检验的根本目的是取得（　　）。

A.证实检测手段适用性的证据

B.证实作业过程合理可行的证据

C.表明作业设备状态正常的证据

D.证实产品质量符合性的证据

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第4题

下列文件中，不能作为质量检验依据的是（　　）。

A.检验规程

B.工艺文件

C.质量反馈

D.技术标准

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