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[主观题]

光电传感器的理论基础是光电效应。通常把光线照射到物体表面后产生的光电效应分为三类。第一类是利用在光线作

用下光电子逸出物体表面的______,这类元件有光电管、光电倍增管等;第二类是利用在光线作用下使材料内部电阻率改变的______,这类元件有光敏电阻等;第三类是利用在光线作用下使物体内部产生一定方向电动势的______,这类元件有光电池、光电仪表等。
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第1题

向一棵B树插入关键码的过程中,若最终引起树根结点的分裂,则新树比原树的高度减少1。()

向一棵B树插入关键码的过程中,若最终引起树根结点的分裂,则新树比原树的高度减少1。()

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第2题

在一棵高度为h的B树中插入一个新关键码时,为搜索插入位置需读取()个结点。
在一棵高度为h的B树中插入一个新关键码时,为搜索插入位置需读取()个结点。

A、h-1

B、h

C、h+1

D、h+2

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第3题

下面关于B树运算的叙述中,正确的是

A.若插入过程甲根结点发生分裂,则B树的高度加1

B.每当进行插入运算,就往B树的最下面一层增加一个新结点

C.若要删除的关键码出现在根结点中,则不能真正删除,只能做标记

D.删除可能引起B树结点个数减少,但不会造成B树高度减小

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第4题

下面关于 B-树插入和删除操作的叙述中,正确的是()。

A.若插入过程中根结点发生分裂,则 B-树的高度加 1。

B.每当进行插入操作,就需要在 B-树的最下面一层增加一个新结点。

C.若要删除的关键码出现在根结点中,则不能真正删除,只能做标记。

D.删除可能引起 B-树结点个数减少,但不会造成 B-树高度减小。

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第5题

从一棵高度为h的B树中删除一个已有的关键码,假定内存空间足够大,可以把搜索被删关键码所在结
点而读入的结点都保存在内存中。最坏情况下从下向上,一直到根都要进行结点的合并,那么在这种情况下需要读写()次磁盘。

A、h+l

B、2h-1

C、3h-2

D、4h-3

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第6题

以下关于B树运算的叙述中,_______是正确的。

A.若插入过程中根结点发生分裂,则B树的高度加1

B.每当进行插入运算,就在B树的最下面一层增加一个新结点

C.若要删除的关键码出现在根结点中,则不能真正删除,只能做标记

D.删除可能引起B树结点个数减少,但不会造成B树高度减小

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第7题

在一棵m阶的B+树中,若在某结点中插入一个新关键码而引起该结点分裂,则此结点中原有的关键码个数
为_______。 Consider a B+ tree with rank of m, if inserting a new key value into a node cause this node to split, then this node originally has ___ key values.

A、m-1

B、m

C、m+1

D、2*m

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第8题

下面关于B树运算的叙述中,正确的是

A.若插入过程中根结点发生分裂,则B树的高度加1

B.每当进行插入运算,就往B树的最下面一层增加一个新结点

C.若要删除的关键码出现在根结点中,则不能真正删除,只能做标记

D.删除可能引起B树结点个数减少,但不会造成B树高度减小

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第9题

在一棵高度为h的B树中插入一个新关键字时,为查找插入位置需读取()个结点

A.h-1

B.h

C.h+1

D.h+2

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