采用塞规卡规测量产品，严格而言，属于哪种测量系统（）

A.计量型

B.统计型

C.测量型

D.计数型

A.计量型

B.计数型

C.计分型

D.测量型

A.计量型

B. 统计型

C.测量型

D. 计数型

测量系统的分析研究，是仅对计量型器具而言。()

A.计数型

B.计量型

C.计数型和计量型

A.根据数据类型，测量系统可分为计量型测量系统分析和计数型测量系统分析

B.计量型测量系统分析从准确性和精确性两方面去分析

C.测量系统的准确性分析包含：偏倚、偏倚线性性、稳定性

D.测量系统的精确性包含：重复性和再现性研究

A.计量型

B.计数型

C.测量型

A、计量型样本量和计数型样本量相同

B、计数型样本量小于计量型样本量

C、计量型样本量小于计数型样本量

D、以上都不对

A.可重复，可重复

B.可重复，不可重复

C.不可重复，可重复

D.不可重复，不可重复