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[单选题]

耦合电容器维护中,红外精确测温周期中,35kV及以下()年

A.半

B.1

C.2

D.3

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第2题

A.1

B.2

C.3

D.半

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第3题

A.1月

B.3月

C.半年

D

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第4题

A.1

B.2

C.3

D.6

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第5题

A.整体发热

B.温度分布自上而下递增

C.温度分布自上而下递减

D.可能原因是耦合电容器受潮,介质老化后,损耗增大

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第6题

A.0.5~1K

B.2~3K

C.4~5K<br>

D.&5~10K

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第7题

以下关于耦合电容器介质损耗因数tanδ测试说法正确的是()
A.采用油纸绝缘结构的耦合电容器在10kV试验电压下tanδ≦0.5%。

B.采用膜纸绝缘结构的耦合电容器在10kV试验电压下tanδ≦0.4%。

C.当tanδ不符合要求时,应综合分析tanδ与电压得关系,并查明原因。

D.110kV及以下电压等级预试周期为6年

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第8题

A.各零、部件装配应牢固无松动

B.耦合电容器安装时,不应松动其顶盖上的紧固螺栓

C.耦合电容器叠装时中心线一致,无歪扭倾斜现象

D.两节或多节耦合电容器叠装时,应按制造厂的编号安装,不得互换

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第9题

电压互感器、耦合电容器红外热像检测主要检测()、()等。

A. 结合滤波器

B. 高压引线连接处

C. 耦合电容器本体

D. 耦合电容器末屏接地线

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第10题

电压互感器、耦合电容器相对电容量比值检测周期为()。

A. 半年至1年

B. 1年至2年

C. 2年至3年

D. 3年至4.5年

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