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[主观题]

接线电容会使试品介质损耗因数tanδ的测量值偏大。

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第1题

在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。( )

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第2题

测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。

A、整体受潮;

B、整体劣化;

C、小体积试品的局部缺陷;

D、大体积试品的局部缺陷。

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第3题

测量介质损耗因数,通常不易发现____。
A、整体受潮

B、小体积试品的局部缺陷

C、大体积试品的局部缺陷

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第4题

衡量电气设备绝缘性能好坏的一项重要指标是( )。

A.介质损耗因数的大小

B.电容比的大小

C.交流耐压试验值的大小

D.电流强度值的大小

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第5题

在绝缘试验时,通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。
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第6题

衡量电气设备绝缘性能好坏的一项基本指标是( )。

A.介质损耗因数的大小

B.电容比的大小

C.交流耐压试验值的大小

D.电流强度值的大小

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第7题

衡量电气设备绝缘性能好坏的一项重要指标是( )。

A.介质损耗因数的大小

B.电容比的大小

C.交流耐压试验值的大小

D.电流强度值的大小

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第8题

绝缘介质在交流电压作用下,其中电容性的电流的大小与被试品的介质损耗大小有关。( )

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第9题

为什么测量110kV及以上高压电容型套管的介质损耗因数时,套管的放置位置不同,往往测量结果有较大的差别?
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第10题

当绝缘介质一定,外加电压一定时,介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成( )。

A.反比

B.正比

C.U形曲线比例关系

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