题目内容
(请给出正确答案)
[单选题]
STEM用电子束在样品的表面扫描进行微观形貌分析时,探测器置于
A.试样左上方,接受背散射电子束流荧光成像
B.试样下方,接受透射电子束流荧光成像
C.试样右上方,接受背散射电子束流荧光成像
D.试样正上方,接受反射电子束流荧光成像
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A.试样左上方,接受背散射电子束流荧光成像
B.试样下方,接受透射电子束流荧光成像
C.试样右上方,接受背散射电子束流荧光成像
D.试样正上方,接受反射电子束流荧光成像
第2题
A、扫描时,探测器不运动
B、球管绕受检者做360°旋转
C、采用反扇束扫描方式
D、X线束的扇形角达50°~90°,减少了球管的负载
E、第四代CT机探测器数量更大,容易达成一致,明显优于第三代CT机
第4题
A.普通CT
B.螺旋CT
C.电子束CT
D.超高速CT
E.多层螺旋CT
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