光缆单盘测试时，G655型光缆的1550nm窗口光纤衰减指标为（）。

A．光纤损耗基数

B．光纤衰减常数

C．光纤长度

D．光纤防水系数

E．光纤抗压系数

此题为判断题(对，错)。

A.光纤长度的测量

B.光纤单盘损耗测量

C.光缆对地绝缘电阻测试

D.光缆护层的绝缘检查

E.光纤后向散射曲线观察

用OTDR对某条光缆或某光纤传输链路进行全程光纤背向散射信号曲线测试时，若1550nm波长测试发现曲线上有比较大的损耗台阶，再用1310nm波长复测，若在此波长下损耗台阶()，说明该处存在弯曲过度问题。

A.同样大

B.无固定规律

C.明显增大

D.明显变小或消失

A.8db

B.0.08db

C.16db

D.32db

A.对仓库内的备用光缆的规格、程式数量进行清点和外观检查、发现异常应重点检查

B.核对单盘的规格、程式和制造长度应符合订货规定的要求

C.光缆现场采用测试仪检验测试光纤衰减常数、光纤长度

D.光缆金属护套对地绝缘应小于10000MΩ*KM

B、1300

C、1550

D、1510

A.G.652

B.G.653

C.G.655

D.G.656

A. 光纤长度应抽测80%

B. 用0TDR法测量单盘损耗时应加标准尾纤

C. 光缆护层应进行耐压测试

D. 应进行偏振膜色散测试