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[主观题]

在现场测量小电容量试品的介损tgδ值时,使测量结果引入诸多误差的外界因素主要指哪些?

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第1题

在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )

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第2题

测量试品tgδ时,试品的表面泄漏对测量结果有一定影响,并且()。
A.试品电容量越大,影响越小

B.试品电容量越大,影响越大

C.与试品电容量无关

D.与试品电容量关系不确定

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第3题

测量试品时,试品绝缘表面脏污、受潮,试品电容量对测量结果的影响是____。
A、试品电容量越大,影响越大

B、试品电容量越小,影响越小

C、试品电容量越小,影响越大

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第4题

在相同条件下,用西林电桥测量小电容试品的tanδ和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )

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第5题

进行直流耐压试验时,试验电容量小的被试品应加稳压电容。( )

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第6题

测量主轴回转误差运动,需使用位移传感器。试根据回转误差运动测量的特定情况(例如,精确度高、量程范围小、不允许与测量零件接触、主轴表面材质不一定均匀等),逐一分析电感式、电容式、电阻式、光栅式、磁栅式的性能,确定它们是否适用。
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第7题

测量主轴回转误差运动,需使用位移传感器。试根据回转误差运动测量的特定情况(例如:精确度高、量程范围小、不允许与测量零件接触、主轴表面材质不一定均匀等),逐一分析电感式、电容式、电阻式、光栅式、磁栅式传感器的性能,确定它们是否适用。
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第8题

测量局部放电时,要求耦合电容( )。

A、tgδ小;

B、绝缘电阻高;

C、泄漏电流小;

D、在试验电压下无局部放电。

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