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[主观题]

某一个参数的CPK<1.3,可使用什么样的图进行监控?()

某一个参数的CPK<1.3,可使用什么样的图进行监控?()

A.直方图

B.X-S Chart

C.P Char

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第1题

产品的某一参数在进行Qualify时Cpk=0.93,请问该参数可采用什么图进行监控?
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第2题

设某一过程的Cp=Cpk=1,则它代表的合格品率为( )。

A.95.45%

B.97.72%

C.99.73%

D.99.87%

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第3题

某一制程,其Cp=1.60Cpk=0.65,请问下列叙述何者正确:()
A.制程标准差可以接受

B.制程均值偏移严重

C.改善重点为减小制程偏移

D.改善重点在于缩小标准差

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第4题

某一制程,其Cpk=1.67Ppk=0.65,请问下列叙述何者正确:

A.批内变异可以接受

B.批间变异可以接受

C.改善重点在于人机料法环的层别

D.改善重点在于制程参数的优化

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第5题

Cpk=1.09的参数,在什么条件下可使用X-R Chart?
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第6题

某一制程,其Cp=0.70Cpk=0.65,请问下列叙述何者正确:

A.制程标准差可以接受

B.制程均值偏移严重

C.改善顺序为减小制程偏移然后缩小制程标准差

D.改善顺序在于缩小制程标准差然后缩小制程偏移

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第7题

Lafe使用Product X-R Chart进行监控的参数,一般要求CPK>=1.33,请问这有什么好处?
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第8题

如果某过程的过程能力指数Cp=Cpk=1.33,利用单值控制图对过程进行监控,则关于该控制图控制限与规范限关系的说法,正确的是( )。

A.上下控制限间的距离与上下规范限间的距离相同

B.上下规范限间的距离约为上下控制限距离的2倍

C.上下控制限间的距离约为上下规范限距离的1.33倍

D.上下规范限间的距离约为上下控制限距离的1.33倍

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第9题

产品某参数在进行Qualify时Cpk=1.25,请问该参数在何种条件下可采用X-RChart进行监控?
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第10题

Cpk的大小与以下哪几个参数有关?()

A.产品公差

B.产品规格

C.产品的分布散度

D.产品相对于规格中心的偏离

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