题目内容
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[主观题]
如附图所示，制造半导体元件时，常常要精确测定硅片上二氧化硅薄膜的厚度，这时可把二氧化硅薄膜
的一部分腐蚀掉，使其形成劈尖，利用等厚条纹测出其厚度。已知Si的折射率为3.42，siO2的折射率为1.5，入射光波长为589.3nm，观察到7条暗纹。问SiO2薄膜的厚度h是多少？
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第1题
一片玻璃(n=1.5)表面附有一层油膜(n=1.32)，今用一波长连续可调的单色光束垂直照射油面。当波长为485nm时，反射光干涉相消。当波长增为679nm时，反射光再次干涉相消。求油膜的厚度。
第3题
薄钢片上有两条紧靠的平行细缝，用波长λ=546.1nm的平面光波正入射到钢片上。屏幕距双缝的距离为D=2.00m，测得中央明条纹两侧的第五级明条纹间的距离为△x=12.0mm。求：(1)两缝间的距离。(2)从任一明条纹(记作0)向一边数到第20条明条纹，共经过多大距离?(3)如果使光波斜入射到钢片上，条纹间距将如何改变?
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