题目内容
(请给出正确答案)
[主观题]
如解图21-21所示,在硅片Si的表面上有一层均匀的二氧化硅SiO2薄膜,已知Si的折射率为3.42, SiO2
如解图21-21所示,在硅片Si的表面上有一层均匀的二氧化硅SiO2薄膜,已知Si的折射率为3.42, SiO2的折射率为1.50. 为了测量SiO2薄膜的厚度,将它的一部分磨成劈尖.现用波长为λ=600nm的平行光垂直照射,观测反射光形成的等厚干涉条纹.发现图中AB段内共有5条暗纹,且A和B处恰好都是一条明纹的中心,求薄膜的厚度e.
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