题目内容
（请给出正确答案）
[主观题]
关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是A、检查部位超出FOV范围B、检查部位小于FOV范围C
关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是
A、检查部位超出FOV范围
B、检查部位小于FOV范围
C、常出现在频率编码方向
D、扫描层面较厚
E、层间干扰
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更多“关于磁共振成像中卷褶伪影产生原因的描述，正确的是A、检查部位…”相关的问题
第2题
关于磁屏蔽的做法，正确的是
A、房间的六个面焊接铜板
B、在磁体周围包绕铁磁材料
C、在磁体外部使用载有反向电流的线圈绕组
D、房间的六面采用铁磁性材料建筑
E、超导的有源屏蔽
此题为多项选择题。请帮忙给出正确答案和分析，谢谢！
第3题
关于SE序列和GRE序列的描述，不正确的是
A、SE序列使用90°脉冲，GRE序列使用小角度脉冲
B、SE序列使纵向磁化均转变为横向磁化，GRE序列使部分纵向磁化转变为横向磁化
C、SE序列使用180°射频脉冲使相位重叠，GRE序列使用梯度翻转产生相位重聚
D、SE序列成像速度较GRE序列成像速度更快
E、SE序列较GRE信号更高，SNR更高
请帮忙给出正确答案和分析，谢谢！
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