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[主观题]

用接触法测量半导体单晶电阻率的方法主要有______________、______________、______________和_

_____________。

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第1题

下列哪一项不是天然水的三大杂质之一? ( )

A. 悬浮物质

B. 挥发物质

C. 胶体物质

D. 溶解物质

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第2题

在用露点法测定气体中的水分职业中,本岗位存在的危险源是( )。

A. 液氮低温冻伤

B. 潜在氢气泄露引起的爆炸

C. 温度过高

D. 没有明显危险源

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第3题

直拉单晶中氧含量头部与尾部相比( )。

A. 较高

B. 相同

C. 较低

D. 无法判断

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第4题

( )是影响硅器件的成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

A. 点缺陷

B. 线缺陷

C. 面缺陷

D. 微缺陷

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